Sistema NanoRaman Horiba con accoppiamento di uno spettrometro Xplora ad un sistema di microscopia Scanning Probe SPM per misure colocalizzate di spettri Raman, Atomic Force Microscopy e TERS. 3 sorgenti laser (100 mW a 532 nm; 50 mW a 638 nm; 300 mW a 785 nm) per microscopia Raman.
Spettrometro microRaman DILOR/Jobin Yvon H10 con microscopio Olympus e tavola micrometrica motorizzata per misure microRaman a 2 lunghezze d'onda (25 W a 632.8 nm, 100 mW a 488 nm).
Microstage a flusso di N/He liquido per misure microRaman nel range 10-300 K. Cella per misure in pressione e/o in flusso di gas.
Spettrofluorimetro NANOLOG Fluorimeter FL3-2iHR Horiba per misure di fotoluminescenza in emissione ed eccitazione. Sorgente: lampada 450W Xenon. Sistema TSPC con diodo laser a 365 nm per misure del tempo di vita della fluorescenza, range temporale tra 200 ps e 0.1 ms.
Responsabile: Pietro Galinetto